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掩膜无线测温系统
掩膜无线测温系统
光掩膜又称光罩,是微电子制造中光刻工艺所使用的图形母版,由不透明的遮光薄膜在透明基板上形成掩膜图形,并通过曝光将图形转印到产品基板上。在半导体芯片加工制造过程中,光掩膜版表面的温度均匀性要求非常高,需要严格的温度测量和控制。掩膜无线测温系统用于准确测量光掩膜版的温度分布。
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  • 基本介绍
  • 主要参数
  • 掩膜无线测温系统


    产品概述

    光掩膜又称光罩,是微电子制造中光刻工艺所使用的图形母版,由不透明的遮光薄膜在透明基板上形成掩膜图形,并通过曝光将图形转印到产品基板上在半导体芯片加工制造过程中,光掩膜版表面的温度均匀性要求非常高,需要严格的温度测量和控制。掩膜无线测温系统用于准确测量光掩膜版的温度分布。


    产品特点

    1.  体积小、精度高、采样速度快;

    2. 温度准确度高达1mK

    3采用无线通讯方式,响应时间短。


    温度范围

    0 ~ 30℃

    温度准确度

    1mK(3σ)

    重复测量准确度

    <2mK(3σ)

    传感器响应时间

    1s

    采集频率

    max.4Hz

    连续工作时间

    100min

    传感器数量

    14

    通讯方式

    Wifi

    保修期

    1年

     


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